Android內存監控與分析（二）：最常遇見的內存泄漏測試場景

Android內存監控與分析（二）：測試中最常遇見的內存泄漏測試場景 APP測試中難免會有各種顯式或者隱式的內存泄漏（Memory Leak）問題，如果不及時發現處理，可能會因爲內存泄漏導致各種奇怪的問題（如，卡頓和閃退），甚至可能出現因內存不足（Out of Memory，簡稱OOM）而導致APP崩潰。 本文將通過實戰分析內存泄漏和內存溢出問題，並在必要時說明原理或機制。結構分爲四個模塊，如圖1

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