DFT之LOC和LOS

前言 DFT技術中有一種成爲at-speed的技術，可以用來測試電路正常工作的時序是否有問題，進而確定電路能否正常工作。這種技術測試的故障叫做transition fault，同樣這種技術也叫transition fault test。 想要實現這種技術，一對測試patter(V1, V2), 需要應用到測試電路當中（Circuit Under Test, CUT)。 V1用來初始化電路，或者叫給

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