CC2640R2F學習筆記二：昇潤科技開發資料閱讀

本文檔針對昇潤科技提供的 TTC BLE SDKCC2640 部分硬件特性測試.pdf 文檔 閱讀，整理相關問題。 1、第一部分提到了ADC精度的問題，其提出了一種ADC驗證電路框架，不是特別合理。 ① 採用兩個1M的電阻分壓進行ADC採樣，是出於功耗的考慮，沒啥問題。 ② 實際上兩個1M的電阻分壓輸入到MCU引腳端口的時候，因爲IO關機哦啊的而阻抗大約在幾十K的樣子，會形成阻抗不匹配的情況，影響

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