高壓之下，必有懦夫

在設計無線充電系統的過程中，需要對選擇的功率MOS的耐壓進行測試。雖然在新品的數據手冊上已經給出了芯片的耐壓等級，但是之前很少通過實驗來判斷芯片在高壓下出現擊穿的過程和效果，所以通過簡單實驗來觀察芯片的耐壓情況，這也爲系統設計中芯片耐壓餘量的選擇打下基礎。 如下是利用了一個廢棄空調中臭氧離子發生器中的高壓模塊，形成的一個可控的高壓電源。它輸出的高電壓有輸入的直流工作電源所確定。 外部增加上擊穿限流

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