高通平臺G-sensor校準流程
高通平臺G-sensor校準流程 1.app層 runSensorTest jni接口 2.hal層的接口 jni中調用libSensor1的接口sensor1_open 3.adsp驅動中的流程 調用到對應驅動文件中的run_test，以bma2x2爲例： run_test 函數中由多種校準模式其中SNS_DDF_TEST_OEM模式會計算當前機器的數據bias，並存儲下來。 除了SNS_DDF
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