一窺Memory測試算法及自我修復機制

  摘要 爲了滿足新一代設備的需求，Memory的大小每三年就會增加4倍。深亞微米設備包含大量面積更小、訪問速度更快的Memory。針對此類設計制定自動測試策略可以減少ATE（自動測試設備）的時間和成本。 內存故障的行爲與經典的「Stuck-At」故障不同。因此，Memory的故障模型（由於其陣列結構）與標準邏輯的設計也是不同的。Memory測試除了進行故障檢測和定位，還可以實現用冗餘單元對故障單

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