JavaShuo
欄目
標籤
LCD點狀缺陷分析與研究
時間 2021-01-13
原文
原文鏈接
LCD面板在製造過程中,大致可以分爲三個階段:陣列(array)、成盒(cel1)、模組(module).。儘管LCD面板製造的大部分過程都是在高潔淨度的無塵室裏完成的,但LCD顯示屏上還是不可避免地會出現一些缺陷。造成這些缺陷的原因有很多,在其製造的各個環節都有缺陷產生。在成盒階段形成的針孔缺陷和黑點缺陷是兩種較爲常見的點狀缺陷。 在灌注液晶時盒內如果產生真空氣泡,即形成針孔缺陷;如果灌注液晶前
>>阅读原文<<
相關文章
1.
案例:缺陷狀態數據分析
2.
缺陷分析之缺陷特性
3.
缺陷分析之缺陷引入與移除矩陣
4.
C陷阱與缺陷 要點總結
5.
無窮小分析的研究現狀
6.
缺陷分析之缺陷預防的過程
7.
缺陷分析之缺陷預防的特性
8.
C陷阱與缺陷
9.
與缺陷共舞
10.
缺陷的分類
更多相關文章...
•
HTTP狀態碼
-
HTTP 教程
•
互聯網系統應用架構基礎分析
-
紅包項目實戰
•
Git五分鐘教程
•
算法總結-二分查找法
相關標籤/搜索
分析研究
缺陷
lcd
調研與分析
C缺陷與陷阱
研究
缺點
研析
有缺陷
語言缺陷
Hibernate教程
Redis教程
NoSQL教程
0
分享到微博
分享到微信
分享到QQ
每日一句
每一个你不满意的现在,都有一个你没有努力的曾经。
最新文章
1.
[最佳實踐]瞭解 Eolinker 如何助力遠程辦公
2.
katalon studio 安裝教程
3.
精通hibernate(harness hibernate oreilly)中的一個」錯誤「
4.
ECharts立體圓柱型
5.
零拷貝總結
6.
6 傳輸層
7.
Github協作圖想
8.
Cannot load 32-bit SWT libraries on 64-bit JVM
9.
IntelliJ IDEA 找其歷史版本
10.
Unity3D(二)遊戲對象及組件
本站公眾號
歡迎關注本站公眾號,獲取更多信息
相關文章
1.
案例:缺陷狀態數據分析
2.
缺陷分析之缺陷特性
3.
缺陷分析之缺陷引入與移除矩陣
4.
C陷阱與缺陷 要點總結
5.
無窮小分析的研究現狀
6.
缺陷分析之缺陷預防的過程
7.
缺陷分析之缺陷預防的特性
8.
C陷阱與缺陷
9.
與缺陷共舞
10.
缺陷的分類
>>更多相關文章<<