校準件的幾個參數

校準過程當中咱們都會使用到校準件,包括同軸校準件及波導校準件,還有微帶校準件。
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有關微帶校準、同軸校準及波導校準以前都有文章寫過,你們能夠爬爬樓再看看。網絡


今天隨便聊聊同軸校準件。儀表上都會定義校準件的一些參數,不一樣品牌儀表的定義略微會有不一樣,但整體而言仍是一致的。app


主要參數以下:函數


Z0

要定義的標準和實際測量面之間的偏置阻抗。一般 Z0 設置爲系統的特性阻抗,通常爲50歐姆或75歐姆。標準是50歐姆,若是要改爲75歐姆需按以下設置。測試


  1. 點擊【Analysis】-->【Fixture Simulator】夾具仿真器,點擊【Port Z Conversion】並指定所選端口的參考阻抗,將 Port 1 Z0 Real 從 50 Ω 變爲 75 Ω。spa

  2. 點擊【Port Z Conversion】將端口阻抗轉換功能置爲 ON 狀態。.net

  3. 點擊【Fixture Simulator】置爲 ON 狀態。3d

(手邊U盤壞了就直接拍照不截圖了,略有模糊各位見諒)
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延遲

發生的延遲取決於要定義的標準和實際測量面之間的傳輸線長度。在開路、短路或負載標準中,延遲定義爲從測量面到標準的單向傳播時間(秒)。在直通標準中,延遲定義爲從一個測量面到另外一個測量面的單向傳播時間(秒)。延遲可經過測量或將標準的精確物理長度除以速度餘數來肯定。blog


安立Anritsu的網分對於時延的定義用的是長度單位,換算一下便可變換成時間單位,具體公式以前文章中有講過,見6月10號那期《不一樣廠牌的校準件及矢網如何相互使用》。

損耗

損耗用於肯定沿同軸電纜的長度(單向)由集膚效應引發的能量損耗。損耗是用 1 GHz 上的 Ω/s 爲單位進行定義。在許多應用中,使用 0 值做爲損耗不該帶來顯著偏差。經過測量延遲(秒)和 1 GHz 上的損耗,而後將測量值代入下面的公式,便可肯定標準的損耗。

Keysight的網分有這一項設置,安立的Shockline系列網分我沒找到相關設置,R&S有沒有也不清楚,由於手邊沒機器。


C0、C一、C二、C3

開路標準在高頻上不多具備理想的反射特性。這是因爲開路標準的邊緣電容會引發隨頻率而變化的相移。對於分析儀的內部計算,採用開路電容模型。該模型以一個三階多項式的頻率函數表示。多項式中的係數可由用戶定義。電容模型的公式以下所示:

L0、L一、L二、L3

短路標準在高頻率上不多具備理想的反射特性。這是因爲短路標準的殘餘電感會引發隨頻率而變化的相移。這種影響不可能消除。對於分析儀的內部計算,採用短路電感模型。該模型以一個三階多項式的頻率函數表示。多項式中的係數可由用戶定義。電感模型的公式以下所示。


說到校準就會使用到不一樣接口的校準件及鏈接器,下面就順帶聊下。

依接口類型不一樣可分爲不少種,具體以下圖。

其中SMA、3.5mm、2.92mm能夠物理相連。2.4mm、1.85mm能夠物理相連。可是(SMA、3.5mm、2.92mm)和(2.4mm、1.85mm)不能夠相連,這個須要特別注意,不然會形成損壞。

那麼爲何會有這麼多種不一樣接口的接頭元件呢?主要是:同軸鏈接器和電纜傳輸主模TEM模,截止頻率對應使用頻率上限。

好比:同軸電纜傳輸的是TEM模,即電場和磁場的方式均與傳播方向垂直。若是頻率太高會產生電磁泄漏。


若是系統中都有鏈接SMA、3.5mm、2.92mm接頭,那最高工做頻率是18G;若是3.5mm和2.92mm相鏈接,那麼最高工做頻率是33G;若是2.4mm和1.85mm鏈接,那工做頻率上限是50G;鏈接器內導體直徑匹配的才能夠互連。不論是50歐姆N頭或75歐姆N頭與其它的都不兼容。




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