【OP放大器】運放的失調電流與失調電壓（包含如何測量失調電壓和失調電流）

輸入失調電壓（Vos）

若是運放兩個輸入端上的電壓均爲 0V，則輸出端電壓也應該等於 0V。但事實上，輸出端總有一些電壓，該電壓稱爲失調電壓 VOS。若是將輸出端的失調電壓除以電路的噪聲增益，獲得結果稱爲輸入失調電壓或輸入參考失調電壓。這個特性在數據表中一般以 VOS給出。VOS被等效成一個與運放反相輸入端串聯的電壓源。必須對放大器的兩個輸入端施加差分電壓，以產生 0V 輸出。 

溫度漂移（Drift）

Vos隨着溫度的變化而改變，這種現象稱爲漂移，漂移的大小隨時間而變化。漂移的溫度係數TCVos一般會在數據表中給出，但一些運放數據表僅提供可保證器件在工做溫度範圍內安全工做的第二大或者最大的Vos。這種規範的可信度稍差，由於TCVos多是不恆定的，或者是非單調變化的。

Vos漂移或者老化一般以mv/月或者mV/1000小時來定義。但這個非線性函數與器件已使用時間的平方根成正比。例如，老化速度1mV/1000小時可轉化爲大約3mV/年，而不是9mV/年。老化速度並不老是在數據表中給出，即便是高精度運放。

輸入偏置電流（Ibs）

理想運放的輸入阻抗無窮大，所以不會有電流流入輸入端，可是，在輸入級中使用雙極結型晶體管（BJT）的真實運放須要一些工做電流，該電流稱爲偏置電流（IB）。一般有兩個偏置電流：IB+和IB-，它們分別流入兩個輸入端。IB值的範圍很大，特殊類型運放的偏置電流低至60fA（大約每3us經過一個電子），而一些高速運放的偏置電流可高達幾十mA。

輸入失調電流（Ios）

單片運放的製造工藝趨於使電壓反饋運放的兩個偏置電流相等，但不能保證兩個偏置電流相等。但不能保證兩個偏置電流相等。在電流反饋運放中，輸入端的不對稱特性意味着兩個偏置電流幾乎老是不相等的。這兩個偏置電流之差爲輸入失調電流Ios，一般狀況下Ios很小。

對於失調電壓，通常是設置一個很大的增益而且把輸入短接。這時候的輸出電壓除以增益就是失調電壓的大小。

 

 對於失調電流，則是用一個很大的電阻接在反饋迴路上。S1閉合時，測同相端的偏流Ip，S2閉合的時候測反相端的偏流In。

這裏的「失調」電流測法實際上測得的是「偏置電流」而非「失調電流」，固然，分別測出了+-端的「偏置電流」後，也能夠得知「失調電流」----等於兩者的差。

上面具體例子中的電阻值選取對於有些狀況不太合適，通常運放的偏置電流只有若干nA數量級，若是採用10M電阻，那麼因爲偏置電流形成的輸出電壓只有若干mV，並且此時還包括了「失調電壓」的影響（偏大或偏小都有可能，具體取決於失調電壓的極性）。因此，測量nA量級的偏置電流，電阻還得取大些，使Ibias*R達到v級，此時也不用扣除失調電壓的影響了（5mv的失調電壓對1v的輸出電壓來講，對測量結果的影響只有0.5%）。